無機配標儀輕松解決光譜類儀器的背景干擾和物理干擾問題

　　我們在做環(huán)境類樣品時，首先要配制標準曲線，用相應的標準曲線作為基準測定未知樣品中的重金屬含量。但由于樣品溶液和標準曲線溶液有基質上的差別，往往導致我們的測定結果有所偏差。下面我們具體討論一下偏差的來源：
 

　　1 例如火焰原子吸收和icp-oes等儀器，在霧化過程中，由于標準曲線溶液和未知樣品消解溶液的表面張力不同，粘度不同，酸度差別等因素，會導致霧化的程度有差異。我們考慮這樣一個模型：
 

　　假設一個小霧滴懸浮在空氣中，
 

　　則有：mg重力=F浮力
 

　　P壓強*s面積=p溶液密度*g重力加速度*v小液滴體積，其中P壓強和g重力加速度是恒定的，v/s與形成的小霧滴的直徑成比例，p溶液密度與樣品基質有關。
 

　　其中當粘度變大時，導致霧化過程中更容易形成體積大的霧滴，v/s變大，液滴的重力大于浮力，霧滴更容易沉降下來，霧化效率降低。那么由于溶液的差異就會導致結果的偏差。
 

　　2 再比如icp-oes儀器，它的定性根據(jù)是每種元素都有各自的光譜項，每一種元素理論上都有很多條譜線，理論上譜線是沒有寬度的線光譜。又由于多普勒變寬，碰撞變寬，自然變寬等的存在，會產(chǎn)生背景光強，因此我們要扣除相應的背景。又由于不同基質的樣品中含各種的元素含量有差異，進而使背景的大小有所不同，背景的不同最終導致結果的偏差。
 

　　S ∝ a1b1+a2b2+a3b3+……aibi+……
 

　　S代表：待測元素a的總背景, ai代表不同的元素的濃度值，bi代表ai元素對待測a的背景強調的貢獻概率。
 

　　公式中可以知道，標準曲線溶液和未知樣品溶液的基質不同時，如硅，鐵，氧，鈦等元素含量的差異，會導致S背景的不同，導致測定結果的偏差。